技術(shù)文章

當(dāng)前位置：主頁(yè) > 技術(shù)文章 > 發(fā)掘地下寶藏 | XRF 分析儀在貴金屬勘探中的應(yīng)用

發(fā)掘地下寶藏 | XRF 分析儀在貴金屬勘探中的應(yīng)用

更新時(shí)間：2025-01-06 點(diǎn)擊次數(shù)：1644

隨著全球?qū)F金屬需求的增加，礦業(yè)公司正在尋找更快、更經(jīng)濟(jì)的方法來(lái)探測(cè)和評(píng)估這些珍貴資源。繼上期介紹了朗鐸科技為礦業(yè)和礦物加工行業(yè)提供全方位解決方案后，本期我們將深入探討這項(xiàng)便攜技術(shù)如何在貴金屬勘探中實(shí)現(xiàn)突破。

場(chǎng)景重現(xiàn)：精準(zhǔn)定位貴金屬

貴金屬，如金、銀和鉑族元素(PGE)，通常在地下深處難以觸及的地方蘊(yùn)藏。傳統(tǒng)的勘探方法不僅耗時(shí)而且成本高昂。

然而，通過(guò)使用尼通手持 XRF 分析儀，地質(zhì)學(xué)家現(xiàn)在可以快速識(shí)別含有這些貴金屬的區(qū)域，即使是在濃度極低的情況下。

1、應(yīng)用實(shí)例

在南非布什維爾德雜巖體，包括梅倫斯基礁和上組2礁（UG2），其中賦存了大量的PGE。這些地層主要由輝石巖、斜長(zhǎng)巖和變性橄欖巖組成，典型的PGE品位為3-10 g/t。為了研究手持 XRF 分析儀對(duì)PGE勘探的應(yīng)用，沿地層剖面采集了63個(gè)樣品。然后由商業(yè)實(shí)驗(yàn)室 (SGS-Lakefield) 使用ICP分析樣品。使用尼通手持 XRF 分析儀對(duì)這些樣品進(jìn)行了兩種形式的分析（直接照射樣品和粉碎樣品-漿料）。

圖1.南非布什維爾德雜巖體中目標(biāo)元素(Pt、Pd和Au)和探途元素(Cu和Ni)的地層分布表明，使用尼通手持 XRF 分析儀進(jìn)行的Cu和Ni分析可用于定位Pt、Pd 和 Au礦化帶。

2、結(jié)果

通過(guò)實(shí)驗(yàn)室分析發(fā)現(xiàn)探途元素Ni和Cu與目標(biāo)貴金屬Pt、Pd和Au具有顯著的正相關(guān)性。這表明Ni和Cu可以有效地用作指示貴金屬位置的探途元素。通過(guò)使用尼通 XL3t 手持 XRF 分析儀對(duì)這些探途元素進(jìn)行分析，結(jié)果證實(shí)了它們能準(zhǔn)確地定位含有高濃度Pt、Pd和Au的地層。